FASTRACK™直线光栅性能优势

除了拥有硬化不锈钢结构的坚固性、安装便捷和栅尺拆卸/更换方便（即使在空间狭小受限的情况下也是如此）的优点外，FASTRACK配用RESOLUTE™和TONiC™更能提供真正的性能优势!

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高精度直线光栅

由于Renishaw的先进刻划工艺，用于FASTRACK的RTLC和RTLA栅尺具有±5 µm/m的给定精度，无需补偿。更令人耳目一新的是，实际安装精度典型情况下接近于±2 µm/m；就性能指标而言大大领先于对手。此外，利用Renishaw的XL-80校准激光干涉仪进行简单的两点补偿，线性误差得到了严格控制，

曲线图显示了在未经补偿的情况下RTLC和FASTRACK的典型精度结果。

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测量优势

Typical FASTRACK™ linear encoder system hysteresis graph FASTRACK的典型设计能够在极高的加速度负载下使栅尺保持原有位置，大大减少了两个部件之间的摩擦力，因此允许栅尺在规定的膨胀系数范围内自由膨胀。因此滞后也保持在最低水平……在整个工作温度范围内，采用中心固定的2 m轴上的滞后仅为1 µm！

FASTRACK的另一个独特的测量优势是夹紧方法，即将栅尺锁定到底板的单个点上，而栅尺不发生变形；与用在传统托架形光栅上的夹具相比，这是一项重大改进。此种方法使系统构造器可以将栅尺固定在机器的理想位置上，而不会影响该区域的精度；此特性对于中心固定高精度轴尤其重要。

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改进的运动控制性能

TONiC采用新一代创新光学滤波系统，噪声（抖动）更低，包括自动增益控制和自动偏移量控制在内的动态信号处理使其功能更强大，因此具有极佳的可靠性和抗污染能力。超低电子细分误差 (SDE) 可实现更为平稳的速度控制，扫描性能及位置稳定性均获得提高。 1 nm版本的TONiC（2009年9月起有售）具有额外的降噪能力，实现令人称奇的0.5 nm RMS的抖动水平。

RESOLUTE的优异性能是成熟、可靠和完全独创的工作方法的成果。可以将RESOLUTE当成超高速微型数码相机，对由长的非重复条形码组成的栅尺进行拍照。 RESOLUTE对这些照片进行分析，确定位置，分辨率可达1 nm，噪声（抖动）和SDE（电子细分误差，一个栅距周期内的误差）都很低。这可以提供极高保真度的光栅反馈，确保更平稳的速度控制和超强的位置稳定性。