SEM-拉曼系统

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SEM-SCA at Bologna University Renishaw公司的结构与化学成分分析仪(SCA),将电子扫描显微镜和拉曼光谱这两种成熟的技术结合在一起,实现了一种强大的独创技术,即不必在不同仪器之间移动样品,就可对同一点样品的形貌、元素、化学成分、物理及电子学特性等进行分析。

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应用示例

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SCA在地质领域的应用说明 — 砂石

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利用SEM-SCA研究苏格兰西南部Loch Torridon地区的一种砂石样本,鉴别组分材料及其状态。

 

托里登湖砂石的拉曼图像

功能

  • 从SEM (SEI和BEI) 获得形貌和平均原子数

  • 从EDS分析获得元素成分

  • 从拉曼光谱获得化学成分和物质鉴定

  • 从拉曼光谱获得物理结构
    (晶体的及力学数据)
  • 从阴级发光 (CL) 和光致发光 (PL) 获得电子及物理结构信息

应用

包括:

  • 材料科学
    腐蚀研究、电子材料、高分子、复合材料
  • 半导体
    鉴别微粒污染物等
  • 药品
    涂层、药物填料和成形剂鉴别及化学相态的研究
  • 刑侦科学
    炸药、毒品、纤维、颜料的鉴定

优势

  • 同时做扫描电镜 (SEM) 和拉曼光谱
    用SEM可方便地确定感兴趣的区域。然后可以用拉曼光谱快速确切地鉴定这些区域。
  • 来自相同样品位置的能谱 (EDS) 和白光成像
    与SEM成像和拉曼光谱一样,能谱、逐点扫描成像及白光成像均可从相同样品位置获得。
  • 阴极发光 (CL) 和光致发光 (PL) 光谱
    用于拉曼光谱收集的光学元件与光致发光 (PL) 和阴极射线发光 (CL) 光谱完全兼容。前者使用激光作为激发源,而后者用电子束。每种技术都能够揭示样品在电子学和物理学两方面的信息,而阴极射线发光对样品成分和残留应力的细微变化十分敏感。

SEM-拉曼系统概述

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Renishaw和电子扫描显微镜联用的结构与化学成分分析仪 (SCA)

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Renishaw的结构与化学成分分析仪 (SCA) 为电子扫描显微镜增加了拉曼光谱的分析功能,从而增强了其分析能力。(4页样本)

 

应用

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SCA在地质领域的应用说明 — 重矿砂

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利用电子扫描显微镜 (SEM) 与拉曼联用系统对南非重矿床进行分析。这些矿层是钛、锆和铁的最重要来源。

 

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SCA在地质领域的应用说明 — 陨石和溶渣

[410KB]

 

利用SEM-SCA分析波特兰水泥溶渣和陨石(4页)。

 

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SCA分析氧化物的应用说明 — 文化遗产

[354KB]

 

SEM-SCA分析对土耳其古城Zeugma的一尊腐蚀的希腊神阿瑞斯青铜雕像的保存发挥了作用。

 

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SCA分析氧化物的应用说明 — 铜和钢

[345KB]

 

此应用说明阐述了如何利用SEM-SCA对铜线和核反应堆的钢的腐蚀进行分析(4页)。

 

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SCA在地质领域的应用说明 — 砂石

[314KB]

 

利用SEM-SCA研究苏格兰西南部Loch Torridon地区的一种砂石样本,鉴别组分材料及其状态。

 

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SEM-SCA对单壁纳米管进行分析

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利用Renishaw和电子扫描显微镜联用的结构与化学成分分析仪对单壁纳米管进行分析

 

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电子扫描显微镜 (SEM) 与拉曼光谱仪联用:材料分析的新工具

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宣传单页,以金刚石薄膜的结果为例阐述Renishaw的SEM-SCA在材料分析方面的应用。

 

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和电子扫描显微镜联用的结构与化学成分分析仪

[705KB]

 

宣传单页,介绍SEM-SCA在金刚石复合材料分析方面的应用。

 

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利用Renishaw的SCA分析碳纳米管

[593KB]

 

宣传单页,介绍碳纳米管光谱分析。

 

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利用Renishaw的结构与化学成分分析仪 (SCA) 对陨石进行分类

[1.9MB]

 

宣传单页,介绍SEM成像和拉曼光谱在陨石分析方面的应用。

 

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利用SEM-SCA分析半导体上的微粒

[240KB]

 

SEM-SCA鉴定半导体如聚合体和磨料上的微粒污染物(4页)。

 

应用

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