| 展会 | 日期 | 举办地 | 国家 | 展品 | 展馆 | 展台 |
| SIAF Guangzhou [外部链接] | 2012年3月7日 - 2012年3月9日 | 广州 | 中国 | 校正 / 光栅 | | A042 |
| CPCA Show [外部链接] | 2012年3月13日 - 2012年3月15日 | 上海 | 中国 | 校正 / 光栅 / 激光尺 | | N12 |
| Die & Mould 2012 [外部链接] | 2012年5月31日 - 2012年6月3日 | 上海 | 中国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | B008 |
| Cimes 2012 [外部链接] | 2012年6月12日 - 2012年6月16日 | 北京 | 中国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | |
| 展会 | 日期 | 举办地 | 国家 | 展品 | 展馆 | 展台 |
| Semicon Korea [外部链接] | 2012年2月7日 - 2012年2月9日 | 汉城 | 韩国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | A | 2500 |
| Battery Japan 2012 [外部链接] | 2012年2月29日 - 2012年3月2日 | 东京 | 日本 | 光谱仪 | | |
| Simtos 2012 [外部链接] | 2012年4月17日 - 2012年4月20日 | 汉城 | 韩国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | 8 | 1 |
| JPCA 2012 [外部链接] | 2012年6月13日 - 2012年6月15日 | 东京 | 日本 | 光栅 / 激光尺 | | |
| M-Tech 2012 [外部链接] | 2012年6月20日 - 2012年6月22日 | 东京 | 日本 | 校正 / 光栅 / 比对仪 | | |
| Interphex Japan [外部链接] | 2012年6月27日 - 2012年6月29日 | 东京 | 日本 | 光谱仪 | | |
| Techno Frontier 2012 [外部链接] | 2012年7月11日 - 2012年7月13日 | 东京 | 日本 | 校正 / 光栅 / 激光尺 / 比对仪 | | |
| ICORS 2012 [外部链接] | 2012年8月12日 - 2012年8月17日 | 邦加罗尔 | 印度 | 光谱仪 | | |
| Jaima Expo 2012 [外部链接] | 2012年9月5日 - 2012年9月7日 | 幕张国际展览中心,千叶 | 日本 | 光谱仪 | | |
| M-Tech (Osaka) 2012 [外部链接] | 2012年10月3日 - 2012年10月5日 | 大阪 | 日本 | 校正 / 光栅 / 激光尺 / 比对仪 | | |
| Jimtof 2011 [外部链接] | 2012年11月1日 - 2012年11月6日 | 东京 | 日本 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 / Additive technologies | | |
| Semicon Japan 2012 [外部链接] | 2012年12月5日 - 2012年12月7日 | 幕张国际展览中心,千叶 | 日本 | 校正 / 光栅 / 激光尺 / 比对仪 | | |
| 展会 | 日期 | 举办地 | 国家 | 展品 | 展馆 | 展台 |
| Rapid Pro 2012 [外部链接] | 2012年1月25日 - 2012年1月26日 | 维荷芬 | 荷兰 | 比对仪 / Additive technologies | | 28 |
| Dental Forum 2012 [外部链接] | 2012年2月9日 - 2012年2月11日 | 巴黎 | 法国 | 牙科 | | E138 |
| Southern Manufacturing 2012 [外部链接] | 2012年2月15日 - 2012年2月16日 | 范堡罗 | 英国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 比对仪 / Additive technologies | | Q48 |
| Expodental 2012 [外部链接] | 2012年2月23日 - 2012年2月25日 | 馬德里 | 西班牙 | 牙科 | 9 | I04 |
| The Dentistry Show 2012 [外部链接] | 2012年3月2日 - 2012年3月3日 | 伯明罕 | 英国 | 牙科 | 4 | B20 |
| Metav 2012 [外部链接] | 2012年2月28日 - 2012年3月3日 | 杜塞尔多夫 | 德国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | 15 | E3 |
| Underhall 2012 [外部链接] | 2012年3月13日 - 2012年3月16日 | 哥德堡 | 瑞典 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | B10-40 |
| Technishow 2012 [外部链接] | 2012年3月13日 - 2012年3月16日 | 乌得勒支 | 荷兰 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | 11 | B072 |
| Dental Expo 2012 [外部链接] | 2012年3月15日 - 2012年3月17日 | 阿姆斯特丹 | 荷兰 | 牙科 | | H.212 |
| Grind Tec 2012 [外部链接] | 2012年3月14日 - 2012年3月17日 | 奥格斯堡 | 德国 | 校正 / 机床测头 / 比对仪 | 7 | 7004 |
| Automaticion 2012 [外部链接] | 2012年3月20日 - 2012年3月23日 | 华沙 | 波兰 | 校正 / 光栅 / 激光尺 | 3 | K7 |
| Amper 2012 [外部链接] | 2012年3月20日 - 2012年3月23日 | 布尔诺 | 捷克 | 校正 / 光栅 / 激光尺 | | |
| Industrie 2012 [外部链接] | 2012年3月26日 - 2012年3月30日 | 巴黎 | 法国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | 4 | D48 |
| MECSPE 2012 [外部链接] | 2012年3月29日 - 2012年3月31日 | 帕尔马 | 意大利 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | 6 | E59 |
| SPIE Photonics Europe 2012 [外部链接] | 2012年4月16日 - 2012年4月19日 | 布鲁塞尔市 | 比利时 | 光谱仪 | | |
| Drives and Controls 2012 [外部链接] | 2012年4月17日 - 2012年4月19日 | 伯明罕 | 英国 | 光栅 / 激光尺 | 3 | D1326 |
| Mach 2012 [外部链接] | 2012年4月16日 - 2012年4月20日 | 伯明罕 | 英国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 / Additive technologies | 5 | 5640 |
| Analytica 2012 [外部链接] | 2012年4月17日 - 2012年4月20日 | 慕尼黑 | 德国 | 光谱仪 | A2 | 520 |
| Konmak 2012 [外部链接] | 2012年4月26日 - 2012年4月29日 | 科尼亚 | 土耳其 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | 2A | 203B |
| Rapid.Tech 2012 [外部链接] | 2012年5月8日 - 2012年5月9日 | 埃尔福特 | 德国 | 比对仪 / Additive technologies | 4 | 208 |
| Control 2012 [外部链接] | 2012年5月8日 - 2012年5月11日 | 斯图加特 | 德国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | 3 | 3304 |
| Industria 2012 [外部链接] | 2012年5月15日 - 2012年5月18日 | 布达佩斯 | 匈牙利 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | |
| DTS 2012 | 2012年5月18日 - 2012年5月19日 | 考文垂 | 英国 | 牙科 | | C9 |
| MTEC 2012 [外部链接] | 2012年5月23日 - 2012年5月24日 | 伯明罕 | 英国 | 校正 / 光栅 / 比对仪 | 9 | 1013,1015 |
| SPS/IPC/DRIVES ITALIA [外部链接] | 2012年5月22日 - 2012年5月24日 | 帕尔马 | 意大利 | 光栅 / 激光尺 | | |
| International Engineering Fair 2012 [外部链接] | 2012年5月22日 - 2012年5月25日 | 尼特拉 | 斯洛伐克 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | |
| Amici di Brugg [外部链接] | 2012年5月24日 - 2012年5月26日 | 里米尼 | 意大利 | 牙科 | | |
| Metalloobrabotka 2012 [外部链接] | 2012年5月28日 - 2012年6月1日 | 莫斯科 | 俄罗斯 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | |
| Mach-Tool 2012 [外部链接] | 2012年5月29日 - 2012年6月1日 | 波兹南 | 波兰 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | |
| Biemh 2012 [外部链接] | 2012年5月28日 - 2012年6月2日 | 毕尔巴鄂 | 西班牙 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 / Additive technologies | | |
| Achema 2012 [外部链接] | 2012年6月18日 - 2012年6月22日 | 法兰克福 | 德国 | 光谱仪 | 4.2 | D63 |
| MSV 2012 [外部链接] | 2012年9月10日 - 2012年9月14日 | 布尔诺 | 捷克 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | |
| AMB 2012 [外部链接] | 2012年9月18日 - 2012年9月22日 | 斯图加特 | 德国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 / Additive technologies | | |
| TCT live 2012 [外部链接] | 2012年9月25日 - 2012年9月26日 | 伯明罕 | 英国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 / Additive technologies | 3A | P14 |
| Toolex 2012 [外部链接] | 2012年10月2日 - 2012年10月4日 | 索斯诺维茨 | 波兰 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | |
| BI-MU 2012 [外部链接] | 2012年10月2日 - 2012年10月6日 | 米兰 | 意大利 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 / Additive technologies | | |
| BDTA 2012 [外部链接] | 2012年10月4日 - 2012年10月6日 | 伦敦 | 英国 | 牙科 | | |
| Maktek Eurasia 2012 [外部链接] | 2012年10月2日 - 2012年10月7日 | 伊斯坦布尔 | 土耳其 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 / Additive technologies | 1 | |
| Prodex 2012 [外部链接] | 2012年11月20日 - 2012年11月23日 | 巴塞尔 | 瑞士 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 / Additive technologies | | |
| Precisiebeurs 2012 [外部链接] | 2012年11月28日 - 2012年11月29日 | 维荷芬 | 荷兰 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 / Additive technologies | | |
| 展会 | 日期 | 举办地 | 国家 | 展品 | 展馆 | 展台 |
| ATX West 2012 [外部链接] | 2012年2月14日 - 2012年2月16日 | 美国加利福尼亚州阿纳海姆 | 美国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 激光尺 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | | 4245 |
| Quality Expo 2012 [外部链接] | 2012年3月14日 - 2012年3月15日 | 沃思堡,得克萨斯州 | 美国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 | | 713 |
| Pittcon 2012 [外部链接] | 2012年3月11日 - 2012年3月15日 | 佛罗里达奥兰多 | 美国 | 光谱仪 | | 952 |
| Westec2012 [外部链接] | 2012年3月27日 - 2012年3月29日 | 美国加利福尼亚州洛杉矶 | 美国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 机床测头 | | 1600 |
| Rapid 2012 [外部链接] | 2012年5月22日 - 2012年5月25日 | 亚特兰大,佐治亚州 | 美国 | 比对仪 / Additive technologies | | 141 |
| Sensors Expo 2012 [外部链接] | 2012年6月6日 - 2012年6月7日 | 罗斯蒙特,伊利诺伊州 | 美国 | 光栅 | | 914 |
| Semicon West 2012 [外部链接] | 2012年7月10日 - 2012年7月12日 | 加利福尼亚州旧金山 | 美国 | 光栅 | | 2518 |
| IMTS 2012 [外部链接] | 2012年9月10日 - 2012年9月15日 | 伊利诺斯州芝加哥市 | 美国 | 校正 / 坐标测量机用测量系统 / 光栅 / 激光尺 / 机床测头 / 测针 / 比对仪 | E | 5530 |