OTP6M光学触发式测头系统,采用非接触感应技术设计,用于测量易弯折或易碎工件
OTP6M光学触发式测头使用可见激光光点(二类),能够为坐标测量机提供非接触式解决方案。
系统包含Wolf & Beck激光测头 (OTP6-LD)(基于光学三角法测量原理工作)和雷尼绍接口 (OPI 6)。
OTP6M的感应光束不会使工件表面变形,因此适用于测量易弯折或易碎材料的工件。可方便地根据标准触发式测头的应用场合,进行改造。该测头具有Z轴重复测量和边沿触发能力。
OTP6M - optical trigger probe system brochure
MTP|OTP6M
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