AFM-拉曼系统

增强您对纳米尺度结构的了解

雷尼绍开发了优化的直接耦合技术，使inVia显微拉曼成为与多种SPM联用的理想搭配，具有针尖增强拉曼散射 (TERS)、近场技术 (SNOM, NSOM) 和拉曼-AFM等能力。

inVia显微拉曼光谱仪已经与NT-MDT和Nanonics Imaging公司的AFM/SPM扫描探头完全整合，提供成功的集成系统。此外，还可以与其他SPM或AFM耦合。

用于科研机构和工业的纳米形貌技术与分析系统

实现最高生产力

只有雷尼绍与NT-MDT和Nanonics Imaging能够提供完全整合的、真正一体化的AFM-拉曼系统。雷尼绍的AFM-拉曼系统具有以下优点：

• 集成系统为您省时 — 机械和软件已完全集成，您可以集中精力进行数据采集和分析
• 数据采集速度更快 — 样品和拉曼光谱仪直接耦合在所有配置中实现了效率最优化
• 信任专家 — 半导体器件上的第一个TERS测量（发表于2001年）和第一个拉曼-AFM/NSOM测量（发表于1995年）都是利用雷尼绍拉曼系统完成的
• 放心选择 — 雷尼绍拥有丰富的经验和技术，为您集成拉曼和SPM系统

雷尼绍拉曼-SPM系统能为您做什么？

AFM与拉曼联用
您可以采集高空间分辨率扫描探针数据和高速远场拉曼数据（通常分辨率为亚微米量级）。可将拉曼数据记录下来并与高空间分辨率形貌、电子、热学和近场光学等数据相互关联。

对石墨烯样品进行拉曼分析（见右图）可识别5种独特的石墨烯厚度，包括单层膜和双层膜区域。拉曼数据用于指导SPM实验，在感兴趣的区域进行形貌、电容和传导测量。

TERS — 针尖增强拉曼（或称无孔径近场拉曼）
一个针尖用以在样品被激光照亮的较大范围内的极小区域增强拉曼信号。此配置提供拉曼技术中的最高空间分辨率。

TERS所具有的优异空间灵敏度可使用多层材料展示。旁边的图片对硅锗上的薄硅层的近场 (TERS) 和远场光谱进行了比较。TERS所具有的优异表面灵敏度使表面硅层的拉曼峰强比频率较高的锗硅层的拉曼峰增强了许多。

如需详细了解该科技如何提高您对纳米技术的认识，或者SPM/AFM与inVia显微拉曼光谱仪联用的信息，请填写在线查询表，也可以联系当地的拉曼业务代表。