拉曼-SPM/AFM联用系统
您可以将inVia的拉曼分析能力与扫描探针显微镜（SPM和AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。
选择合适的系统
inVia具有高度灵活性，雷尼绍能够将其直接耦合到如下供应商的各种AFM和SPM机型上：
- Bruker Nano Surfaces
- Nanonics
- NT-MDT
- JPK
- Park
- Nanosurf
针对您的需求选择合适的SPM/AFM系统。
TERS：针尖增强拉曼散射
所选的inVia-AFM系统能够实现针尖增强拉曼散射 (TERS)。这种令人兴奋的技术利用尖锐的等离子体针尖，可获取纳米尺度的化学信息。
TERS成像是对StreamLine™和StreamHR™的补充，您可以灵活选择所需的分辨率研究样品。
提高效率
雷尼绍特殊设计了灵活的耦合臂，可用于将inVia与SPM或AFM光学整合。利用反射镜引导光，提供比光纤的光学耦合更高的效率。您可以更快并以更高的信噪比获得光谱。
准直很容易。所有的联用系统均提供具有白光照明的内置摄像头，您可以同时清楚看到探针针尖和拉曼激光光斑，这对于TERS工作非常重要。
同位、同时
您可以相信数据的可靠性。无需移动样品，而是从相同的点同时采集拉曼和AFM数据。这样就确保了数据的一致性，即使您的样品随时间发生变化也不受影响。
一套联用系统
共点定位执行分析。您无需在不同系统之间移动您的样品，然后费力地寻找所关注的同一个点。
两位用户可以同时且独立地操作inVia和SPM/AFM，而且不会影响这两台仪器的任何性能。您将拥有一台拉曼系统、一台SPM/AFM系统和一套拉曼-SPM/AFM联用系统。
选择合适的系统
雷尼绍SPM专家将竭诚与您讨论您的具体需求，并向您推荐合适的方案，将inVia集成到您选择的SPM/AFM系统中。欢迎联系我们，了解这项技术如何深化您对纳米尺度的理解。
资料下载：拉曼-SPM/AFM联用系统
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Product note: inVia™ confocal Raman microscope and Dimension AFM integration [en]
The integration of the inVia confocal Raman microscope with the Dimension series AFMs combines industry leading instruments to provide a solution that gives the best possible performance:
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Product note: Renishaw Raman-AFM/TERS solutions [en]
Product note - Combined Raman/AFM (atomic force microscope) systems are excellent for characterising the properties of materials at sub-micrometre, and potentially nanometre, scales.Tip-enhanced Raman scattering (TERS) provides chemical imaging at the nanometre scale, enabling you to take your research to a whole new level.
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美国陆军研究实验室将拉曼与AFM联用
位于美国马里兰州的美国陆军研究实验室 (US Army Research Laboratory) 正利用一台由雷尼绍inVia共焦显微拉曼光谱仪和Bruker公司的Dimension Icon原子力显微镜 (AFM) 组成的联用仪器研究电化学储能材料。
雷尼绍inVia共焦显微拉曼光谱仪与Bruker公司的Dimension Icon AFM联用
雷尼绍提供拉曼-AFM联用解决方案已超过16年，拥有丰富的经验。最新添加到联用技术中的仪器是Bruker公司的Dimension Icon AFM（原子力显微镜）。这种新增的配置证明雷尼绍inVia共焦显微拉曼光谱仪具有高度灵活性，而且能够连接至采用多种分析技术的各种仪器。