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SEM-拉曼系统

雷尼绍公司的结构与化学成分分析仪 (SCA)，将扫描电子显微镜 (SEM) 和拉曼光谱这两种成熟的技术结合在一起，实现了一种强大的独创技术，即无需在不同仪器之间移动样品，就可对同一点样品的形貌、元素、化学成分、物理及电子学特性等进行分析。

博洛尼亚大学的SEM-SCA联用系统雷尼绍公司的结构与化学成分分析仪 (SCA)，将扫描电子显微镜 (SEM) 和拉曼光谱这两种成熟的技术结合在一起，实现了一种强大的独创技术，即无需在不同仪器之间移动样品，就可对同一点样品的形貌、元素、化学成分、物理及电子学特性等进行分析。

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重要文档

[445kB] Renishaw's structural and chemical analyser (SCA) for scanning electron microscopes [English]
Renishaw's structural and chemical analyser enhances scanning electron microscopes by adding the chemical analysis powers of Raman spectroscopy (four page brochure)

功能

从SEM (SEI和BEI) 获得形貌和平均原子数
从EDS分析获得元素成分
从拉曼光谱获得化学成分和物质鉴定
从拉曼光谱获得物理结构（晶体的及力学数据）
从阴极发光 (CL) 和光致发光 (PL) 获得
电子及物理结构信息

应用

包括：

材料科学
腐蚀研究、电子材料、高分子、复合材料
半导体
鉴别微粒污染物等
药品
涂层、药物填料和赋形剂鉴别及多态性的研究
刑侦科学
炸药、毒品、纤维、颜料的鉴定

优势

同时做扫描电镜 (SEM) 和拉曼光谱
用SEM可方便地确定感兴趣的区域。然后可以用拉曼光谱快速确切地鉴定这些区域。
来自相同样品位置的能谱 (EDS) 和白光成像
与SEM成像和拉曼光谱一样，能谱、逐点扫描成像和白光成像均可从相同样品位置获得。
阴极发光 (CL) 和光致发光 (PL) 光谱
用于拉曼光谱采集的光学元件与光致发光 (PL) 和阴极射线发光 (CL) 光谱完全兼容。前者使用激光作为激发源，而后者使用电子束。每种技术都能够揭示样品在电子学和物理学两方面的信息，而阴极射线发光对样品成分和残留应力的细微变化十分敏感。

应用

[494kB] SCA geological application note - heavy mineral sands [English]
Combined SEM and Raman analysis of heavy mineral deposits from South Africa. These deposits are a valuable source of titanium, zirconium, and iron.
[410kB] SCA geological application note - meteor and clinker [English]
Using the SEM-SCA to analyse Portland cement clinker and meteorites (four pages).
[314kB] SCA Geological applications note - sandstone [English]
The SEM-SCA is used to investigate a sandstone sample from the Loch Torridon area of NW Scotland, identifying the component minerals and their phases.
[354kB] SCA oxidation application note - cultural heritage [English]
SEM-SCA analysis helps in the preservation of a corroding bronze statue of the Roman god Ares from the ancient city of Zeugma in Turkey.
[345kB] SCA oxidation application note - copper and steel [English]
This note illustrates how the SEM-SCA can be used to study the corrosion of copper wire and nuclear reactor steel (four pages).
[808kB] Combined SEM and optical spectroscopy: new tools for characterising materials [English]
One page flyer illustrating the use of Renishaw's SEM-SCA to characterise materials, using results from a diamond film as examples.
[477kB] Analysing carbon nanotubes with Renishaw’s SCA [English]
One page flyer with carbon nanotube spectra.
[240kB] Characterisation of particulates on semiconductors using the SEM-SCA [English]
The SEM-SCA identifies particulate contaminants on semiconductors as polymers and polishing materials (four pages).