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XM-60多光束激光干涉仪

只需一次设定即可在任意方向测量6个自由度。

独特的技术、光学滚摆测量以及光纤发射器。

XM-60是一款激光测量系统,只需一次设定即可沿线性轴同时测量6个自由度的误差。它具有强大的诊断工具,通过一次采集就可以测量轴的所有几何误差。

对于执行空间补偿的用户,XM-60为他们获得所需数据组提供了一种快速精准的方法。  所有测量均为光学测量,可在任意方向执行。

发射出多光束的XM-60在机器上工作

主要特性与优点:

  • 快速 — 利用传统激光技术,一次安装即可同时测量线性、俯仰、扭摆、滚摆、水平方向和垂直方向直线度等六项误差。
  • 简单 — 设定简单,让其他干涉仪系统使用者很快就能熟练使用。自动检测轴的正负方向和图形准直减少了人为误差。
  • 可靠 — 直接测量所有误差,允许用户在测试过程中查看结果。
  • 强大 — 独特的光学滚摆测量系统能够在任一方向执行滚摆测量。
阅读XM-60新闻

概述

轻型发射器通过光导纤维远离发热的激光源,从而减少测量点处的热影响。发射器可直接通过其侧面甚至后面安装到机器上或者上下倒置安装,非常适用于难以接近的机器区域。

接收器可进行完全无线操作,由充电电池供电,从而在机器移动中避免电缆拖拽,因为在测量过程中电缆拖拽可能会引起误差或激光束“断光”。

XM-60随附CARTO软件包,可指导用户完成测量过程。CARTO包括Capture(数据采集)和Explore(数据浏览)应用,可为XM-60提供无缝数据采集和分析。


“基于目标模式”和“自由运行模式”

XM-60系统的设计非常灵活,可满足用户的应用需求。例如,“基于目标模式”专用于补偿机床误差并根据国际标准生成性能报告。

CARTO 2.1版新增“自由运行模式”,允许用户在无需定义目标位置甚至目标数量的情况下,立即采集数据。该软件显示相对于直线位置的直线度(水平和垂直)、俯仰、扭摆和滚摆误差。

触发方式包括:

  • 手动(使用键盘按键)
  • 自动(基于位置稳定性)
  • 持续(按用户定义的步长在连续运动中采集)

可溯源精度

每一台XM-60多光束校准装置的性能均可溯源至国际标准,而且在发货前已经过认证。这可以让客户确信他们的系统将在精度要求高的场合一如既往地提供高精度测量。

由雷尼绍设计

雷尼绍制造的激光测量系统性能卓越、运行可靠。铝制基体结构轻巧而坚固,设计为最小封装尺寸,以适合安装在机器上。  激光器采用专门为RLE20激光尺开发的技术研制,RLE20已面世十余年,可用于半导体行业要求最为严苛的应用。

灵活性

XM-60发射器带有集成的可开关磁性安装座,允许快速吸附在机器上。可与90度弯板配合,进行垂直轴准直。提供可选夹具组件,以满足多种安装要求。

图库

产品信息