拉曼-SPM/AFM联用系统

您可以将inVia™共焦显微拉曼光谱仪的拉曼分析能力与扫描探针显微镜（SPM和AFM）联用，在纳米尺度上研究材料的组成、结构和特性。

选择合适的系统

inVia具有高度灵活性，雷尼绍能够将其直接耦合到以下厂家的各种AFM和SPM机型上：

针对您的需求选择合适的SPM/AFM系统。

某些选定的inVia-AFM系统能够实现针尖增强拉曼散射 (TERS)。这项令人振奋的技术利用尖锐的等离子体针尖，可获取纳米尺度的化学信息。

TERS成像是对StreamLine™和StreamHR™的补充，您可以灵活选择所需的分辨率来研究样品。

雷尼绍专门设计了灵活的耦合臂，可用于将inVia与SPM或AFM进行光学集成。利用反射镜引导光，提供比光纤的光学耦合更高的效率。您可以更快获得信噪比更高的光谱。

准直很容易。所有的联用系统均提供具有白光照明功能的内置摄像头，您可以同时清楚看到探针针尖和拉曼激光光斑，这对于TERS工作至关重要。

您可以相信数据的可靠性。无需移动样品，而是从同一个点同时采集拉曼和AFM数据。这样可确保数据的一致性，即使您的样品随时间发生变化也可确保这一点。

共点定位执行分析。您无需在不同系统之间移动您的样品，然后费力地寻找同一个关注点。

两位用户可以同时且独立地操作inVia和SPM/AFM，而两台仪器的性能不会受到影响。您将拥有一台拉曼系统、一台SPM/AFM系统和一套拉曼-SPM/AFM联用系统。

雷尼绍SPM专家将竭诚与您探讨您的具体需求，并向您推荐合适的方案，将inVia集成到您选择的SPM/AFM系统中。欢迎联系我们，了解这项技术如何深化您对纳米尺度的理解。

inVia共焦显微拉曼光谱仪与Dimensions系列原子力显微镜 (AFM) 的集成，是业界两款领先仪器的强强结合，提供了一种超高性能的解决方案。

拉曼-AFM（原子力显微镜）联用系统非常适合在亚微米甚至纳米尺度上表征材料的特性。针尖增强拉曼散射 (TERS) 可进行纳米级化学成像，帮助您将研究提升到全新水平。

inVia with Bruker Nano Surfaces Innova atomic force microscope

Renishaw inVia confocal Raman microscope integrated with a Bruker Nano Surfaces Innova atomic force microscope.
[3257 x 1952] [224kB]
Renishaw inVia confocal Raman microscope integrated with a Bruker Nano Surfaces Bioscope Catalyst

Renishaw inVia confocal Raman microscope integrated with a Bruker Nano Surfaces Bioscope Catalyst (Image courtesy of Prof. Aleksander Balter, Physics Department, UMK, Toruń, Poland).
[1200 x 900] [132kB]
inVia with Nanonics MV2000

No description available
[1200 x 1600] [193kB]
inVia with JPK NanoWizard 3

Renishaw inVia confocal Raman microscope integrated with a JPK NanoWizard 3
[2760 x 1837] [1.2MB]

位于美国马里兰州的美国陆军研究实验室 (US Army Research Laboratory) 采用一台由雷尼绍inVia共焦显微拉曼光谱仪和Bruker公司的Dimension Icon原子力显微镜 (AFM) 组成的联用仪器研究电化学储能材料。

雷尼绍提供拉曼-AFM联用解决方案已超过16年，拥有丰富的经验。最新添加到联用技术中的仪器是Bruker公司的Dimension Icon原子力显微镜 (AFM)。这种新增的联用组合证明雷尼绍inVia共焦显微拉曼光谱仪具有高度灵活性，而且能够连接至采用多种分析技术的各种仪器。