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拉曼-SEM联用系统

拉曼-SEM使您能够在一台系统内全面地原位表征样品性能。两种技术的联用重新定义了便捷、效率和生产力。

雷尼绍结构与化学成分分析仪 (SCA) 接口使扫描电镜 (SEM) 具有了inVia的拉曼点测量和成像能力。

拉曼+SEM

inVia和SCA接口提供了一种SEM内部分析技术,既补充了以光学显微镜为基础的拉曼光谱,又克服了X射线能量散射谱 (EDS) 作为传统的SEM内部分析技术的局限性。采用雷尼绍拉曼-SEM联用系统,您将受益于定位共同点的形貌、元素、化学、物理和电子分析。

使用SEM生成样品的高分辨图像,并进行元素分析。增加拉曼分析能力,以获取化学信息和图像。识别物质和非金属,即使当它们具有相同的化学计量结果时也不例外。

SCA和inVia不仅可以测试拉曼光谱,还可以进行光致发光 (PL) 和阴极射线发光 (CL) 光谱测试。

一套用于原位分析的联用系统

使用一套联用系统,可节省宝贵的时间。您无需在两台仪器之间移动样品,也不会分析错误的样品区域。

inVia和SEM可同时作为独立系统使用,而不会影响两者的任何性能。您将拥有一台拉曼系统、一台SEM系统和一套拉曼-SEM联用系统。

拉曼-SEM成像

您可以使用SEM-SCA的选件 — SEM内成像样品台 — 确定应力/应变的空间变化并表征缺陷。使用此附件,您可以对复杂材料的分子和晶体特性进行成像表征。

同位、同时

您可以相信数据的可靠性。无需移动样品,而是从相同的点同时采集拉曼和AFM数据。这样可确保分析速度快,并且数据具有代表性。

选择最佳系统

雷尼绍SCA接口可以配备到您现有的SEM上。它安装在一个接口上,完全不需要对SEM进行任何改装。SCA可以安装到所有主要供应商提供的SEM上,包括:

  • Zeiss
  • Thermo Fisher Scientific (FEI)
  • TESCAN
  • JEOL
  • Hitachi

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  • Product note:  Co-located SEM-Raman imaging system Product note: Co-located SEM-Raman imaging system [en]

    Renishaw’s SEM-Raman system provides truly co-located analysis Renishaw’s SEM-Raman system is unique. You can simultaneously acquire both SEM (scanning electron microscope) and Raman data from the same area on the sample. You do not have to transfer the sample to a different measurement location or instrument; this ensures rapid truly correlative analysis. You will avoid the sample registration issues that can occur when moving samples between measurement locations.

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  • Product note:  SCA - diamond composite analysis Product note: SCA - diamond composite analysis [en]

    Renishaw’s structural and chemical analyser unites two well-established technologies, scanning electron microscopy (SEM) and Raman spectroscopy, resulting in a powerful new technique which allows morphological, elemental, chemical, physical, and electronic analysis without moving the sample between instruments.

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  • Application note:  A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy Application note: A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy [en]

    Electron imaging and Raman spectroscopy are established techniques for viewing and analysing carbon nanotubes. Performing these two techniques usually requires the sample being transferred between a scanning electron microscope (SEM) and a Raman spectrometer. This application note illustrates the advantages of Renishaw’s structural and chemical analyser (SCA) for simultaneous secondary electron imaging and Raman spectroscopy of single-wall carbon nanotubes (SWNTs).

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  • Application note:  SCA oxidation application note - cultural heritage Application note: SCA oxidation application note - cultural heritage [en]

    SEM-SCA analysis helps in the preservation of a corroding bronze statue of the Roman god Ares from the ancient city of Zeugma in Turkey.

    [354kB]

选择最佳系统

欢迎联系雷尼绍SEM专家,讨论您的特定要求。

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