EVOLUTE™绝对式光栅系列
EVOLUTE绝对式光栅是一款精细分辨率位置测量系统，具有宽松的安装公差和更加优异的抗污性能。该光栅在通电后无需任何移动便可立即确定位置，从而可实现平稳的速度控制和可靠的位置稳定性。
轻松实现绝对位置测量
以业界领先的RESOLUTE™系列光栅技术为基础，EVOLUTE系统是一款真正意义的绝对式光栅，拥有50 µm的栅尺刻划周期；EVOLUTE具有宽松的安装公差和更加优异的抗污性能，其应用场合灵活多样，测量性能出众。
采用创新的图像处理算法，其光学组件经优化后具有更强的抗污性能，因此十分适用于对可靠性要求极高的应用场合。
EVOLUTE光栅能够以达到50 nm的分辨率和高达100 m/s的速度实现绝对位置测量。它提供直线栅尺选项和各种串行接口：
- BiSS® C（单向），带兼容控制器
- FANUC（α和αi）
- Mitsubishi（J4和J5系列伺服驱动装置，以及用于机床应用的MDS-D2/DH2/DM2/DJ驱动装置）
- Panasonic（A5和A6系列驱动装置）
- Siemens DRIVE-CLiQ®
- Yaskawa（Sigma-5和Sigma-7 SERVOPACK）
所有型号（带有ADT标识）均与选配的高级诊断工具ADTa-100和ADT View软件兼容，该工具可获取全面的实时光栅数据，从而实现系统优化和现场查错。
规格手册和技术文档
有关EVOLUTE光栅系列技术规格的更多信息，例如规格手册和安装指南，请访问我们的技术下载页面。
直线运动形式
栅尺类型 | 栅尺名称 | 精度 | 栅距 | 20℃时的热膨胀系数 | 供货长度 |
不锈钢钢带栅尺
| RTLA50 | ±10 μm/m | 50 μm | 10.1 ±0.2 μm/m/℃ | 可达10,020 mm |
带码道选项的不锈钢钢带
| 配有可选FASTRACK™的RTLA50 | ±10 μm/m | 50 μm | 10.1 ±0.2 μm/m/℃ | 可达10,020 mm |
主要优点
应用灵活，性能优异
±150 nm的电子细分误差 (SDE) 和小于10 nm RMS的超低噪声（抖动）。
安装简便
采用刻划周期为50 μm的单码道栅尺，具有宽松的安装公差（间隙可达500 μm）。
选配高级诊断工具ADTa-100
EVOLUTE光栅读数头与高级诊断工具ADTa-100和ADT View软件兼容。它们可提供全面的实时光栅数据反馈，以协助完成要求更加严苛的安装和诊断操作。直观的软件界面具有以下功能：
- 远程校准
- 在整个轴长上实现信号优化
- 显示光栅位置（相对于栅尺）的数字读数
- 导出和保存数据
- 设定零位
了解我们为满足您的工业自动化需求而设计的开放式光栅系列。