荧光寿命显微成像 (FLIM)
在雷尼绍inVia™共焦显微拉曼光谱仪上进行FLIM-拉曼关联分析。
雷尼绍在inVia™共焦显微拉曼光谱仪上集成荧光寿命显微成像 (FLIM) 解决方案。这样可以无缝地测量和分析荧光寿命图像，并将其与拉曼数据叠加。
什么是FLIM？
当激光与荧光基团发生相互作用后，即可测量荧光寿命。荧光寿命是指荧光基团发射光子返回到基态之前，保持电子激发状态的对应时间。基于荧光寿命测量的成像技术称为荧光寿命显微成像 (FLIM)。
荧光衰减的寿命对分子环境和由此产生的分子构象变化很敏感。FLIM技术可用于研究多种特性：
- pH值/离子浓度/氧气浓度
- 分子键合
- 能量受体之间的接近度
相比基于强度的测量，FLIM具有以下优势：FLIM不受荧光基团浓度的影响；此外，FLIM是一种内部自参考测量方法，因此不需要根据仪器配置进行校准。
FLIM尤其适用于细胞生物学研究，可用于环境传感、分子相互作用监测、癌症诊断、活细胞成像，以及荧光基团识别等领域。
为什么将FLIM与拉曼关联在一起？
关联式FLIM和显微拉曼光谱技术是对生物细胞和组织切片进行无标记成像的互补性方法。FLIM图像可揭示分子间相互作用，而且FLIM成像速度至少是拉曼成像的10倍。因此它是一种理想的技术，可用于识别重点关注区域，以便随后通过拉曼成像进行化学和结构表征。
我们的解决方案
雷尼绍与Becker & Hickl公司合作，共同推出完全集成时间相关单光子计数 (TCSPC) 技术的FLIM-拉曼联用显微光谱仪。TCSPC FLIM技术测量入射光到达样品与发射光到达探测器之间的时间差。系统采用405 nm脉冲激光（脉冲宽度 < 40 ps）激发光子发射或荧光。（根据需求可提供其他激光波长。）发射的荧光通过单光子雪崩二极管 (SPAD) 探测器进行检测（时间分辨率 < 40 ps）。
在样品的多个点上进行TCSPC，然后生成FLIM图像。凭借我们的FLIM-拉曼联用系统，可在同一个雷尼绍MS30样品台上实现拉曼成像和FLIM。系统使用相同的测量坐标，因此可轻松实现数据的像元级关联性。
针对FLIM数据分析，Becker & Hickl公司的综合性TCSPC FLIM软件中包括多指数、不完全和移位成分分析模型。该软件还包括专有的相量分析方法，以区分荧光团分子。FLIM图像和拉曼图像可以直接叠加，无需额外进行图像关联。
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