RESOLUTE™ ETR绝对式光栅系统配用RESA30圆环光栅
特性
- 串行接口:BiSS® C
- 读数头尺寸:36 x 16.5 x 17.2 mm
- 在转速为18,000 rpm时分辨率达到32位/转
- 系统精度为±0.52 - 5.49角秒
- 工作温度:-40 °C至+80 °C
- 提供侧面电缆出口型号
优点
- 圆环光栅轻薄小巧,内径大,易于安装
- 宽松的安装公差
- RMS抖动低于10 nm,提高了位置控制稳定性
- ±40 nm电子细分误差,可实现稳定的速度控制
- 高级诊断工具选件
什么是RESOLUTE ETR?
RESOLUTE ETR(宽温度范围)是真正意义的绝对式、精细栅距光栅系统。它具有极强的抗污能力,其超凡的技术指标更是位置反馈领域的一大新突破。它是世界上第一款绝对式光栅,能够在8500 rpm的转速下达到32位分辨率。
它不仅具有革命性创新的RESOLUTE绝对式、精细栅距光栅的全部优点,还能够适应恶劣的低温应用环境。RESOLUTE ETR可以在-40 °C (-40 °F) 的非冷凝环境下可靠运行,非常适合望远镜、科研以及国防和航空等领域的高要求应用。
什么是RESA30圆环光栅?
RESA30为一体式不锈钢圆环光栅,其柱面上直接刻有绝对式栅尺编码刻线。两种型号有多种尺寸可供选择(直径52 mm到550 mm)。“A”截面圆环光栅安装精度极佳,具有锥面安装系统,可减少对公差要求高的加工零件的需求,并消除偏心。还提供“B”截面薄圆环光栅,其转动惯量与质量均较低。“A”截面圆环光栅和“B”截面圆环光栅的内径都比较大,可以在要求极高的应用中灵活安装。非接触形式消除了传统封闭式光栅固有的反向间隙、扭转误差(扭变)及其他机械滞后误差。
为什么选择这种光栅系统?
轻松查错和维护
高级诊断工具ADTa‑100可从RESOLUTE™光栅读数头(标有ADT符号)中获取全面的实时数据。然后通过用户友好型ADT View软件界面显示这些信息。尽管在大多数情况下,借助光栅内置的LED安装指示灯就能够完成系统安装,但ADT可协助完成要求更加严苛的安装操作。ADT还可报告光栅性能并协助系统查错,从而避免机器出现长时间停机。
ETR(宽温度范围)
凭借坚固的不锈钢圆光栅和高抗振能力,RESOLUTE绝对式ETR光栅不仅能够适应恶劣的环境,还具有出色的测量性能、超高运行速度以及优异的回转轴可靠性。
宽松的安装公差
RESOLUTE没有采用传统的双码道并排(一个为增量式,另一个为绝对式)方法,因为该方法在有少量角度准直偏差时会出现移相这一固有问题。与之不同的是,这种绝对式光栅采用单码道绝对式栅尺,将绝对位置和内置的相位信息整合为单个代码。该技术使RESOLUTE具有更宽松的安装公差(扭摆公差为±0.5°),因此安装快捷方便,具有优异的长期稳定性,即使运动轴随着时间的推移而出现驻留或移动时也是如此。读数头上有一个内置LED安装指示灯,用于进一步协助安装和诊断。
可选的高级诊断工具ADTa-100
RESOLUTE光栅读数头(标有ADT符号)与高级诊断工具ADTa-100和ADT View软件兼容。它们可提供全面的实时光栅数据反馈,以协助完成要求更加严苛的安装和诊断操作。直观的软件界面具有以下功能:
- 远程校准
- 在整个轴长上实现信号优化
- 显示光栅位置(相对于栅尺)的数字读数
- 导出和保存数据
- 设定零位
串行接口
串行接口 | 说明 | 规格手册 | 兼容产品 |
BiSS C | 雷尼绍绝对式光栅支持BiSS C(单向)开放式协议。BiSS C是一种高速串行接口,适用于要求较高加速度、平稳的速度控制、优异的重复精度和超强的位置稳定性的动态轴。 |
技术规格
测量标准 | 轻薄小巧的一体式不锈钢圆环光栅,提供标准的采用锥面内径的标准“A”截面圆环光栅或转动惯量极低的“B”截面圆环光栅 |
读数头尺寸 (LxWxH) | 36 mm x 16.5 mm x 17.2 mm |
栅距 | 标称30 µm |
20 °C时的热膨胀系数 | 15.5 ±0.5 μm/m/°C |
圆环外径 | 52 mm至550 mm |
系统精度* | ±5.49至±0.52角秒(取决于圆环直径) |
最高速度 | (详见规格手册) 18,000 rpm(在52 mm圆环上) |
串行接口† | BiSS C |
分辨率 | BiSS C:18位、26位和32位 |
电子细分误差 (SDE) | ±40 nm |
电气连接 | 电缆长度最长为10 m,采用D型连接器(9针和15针)或散线 |
电源 | 5 V ±10%,5 V时为250 mA(带终端) |
振动(工作) | 55 Hz至2000 Hz时,最大振动为300 m/s2 |
冲击(非工作) | 1000 m/s2,6 ms,½正弦 |
工作温度 | -40 °C至+80 °C |
防护等级 | IP64 |
请参阅规格手册,了解详细信息。
* 系统精度为刻划误差加上电子细分误差 (SDE)。刻划精度是单个读数头测得的角度和光栅实际刻划的转角之间的最大差值。其中不包括应用中存在的干扰,比如偏心。
†其他串行协议将不断添加。