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叶片测量

将REVO®五轴系统的扫描能力,与MODUS™叶片规划器、SurfitBlade™和MODUS测量软件的功能结合在一起,突破了常规叶片测量技术的局限性。

传统的叶片测量方法只能检测有限数量的横截面,而使用REVO的滑行扫描技术和雷尼绍Blade Toolkit(叶片工具包)能够精确、快速地测量和评估整个叶片。

现在,待测截面数量不再受到限制,还可以利用高精度触发式测头测量数据分析整个表面。

叶片测量过程是,首先使用MODUS叶片规划器软件自动生成用于REVO的无碰撞滑行扫描程序,然后使用MODUS测量软件在坐标测量机 (CMM) 上运行该程序。

滑行扫描操作将生成精确的“点云”,覆盖整个叶片型面。使用MODUS点云截面功能,可以在所需位置生成截面。

由于已经存储了完整的数据集,因此之后可以在需要时随时创建其他截面,无需重新测量。

通过以下两种方法处理所获得的数据:

叶片测量

检测

通过MODUS对数据进行划分,并与名义CAD模型要求进行比较。分析结果通过MODUS报告生成程序呈现,还可生成预设的PDF文档用于存档。

工程设计

使用SurfitBlade处理数据,并生成全NURBS表面,用于空气动力学和应力分析等。