TP200
具有模块交换功能的超小型测头，它使用应变片机构，比机械式触发测头的寿命更长、精度更高。
TP200系统组件包括：
还有一种EO模块（长过行程），过行程测力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴方向上提供保护。
特性与优点
- 应变片技术可实现优异的重复性和三维形状测量精度
- 零复位误差
- 无各向异性影响
- 六向测量能力
- 测针测量距离长达100 mm（玻璃纤维测针）
- 快速交换测头模块，无需重新标定测尖
- 寿命 > 1000万次触发
TP200/TP200B测头本体
TP200测头采用微应变片传感器，可实现优异的重复性和三维形状测量精度，即使配用长测针时也不例外。
传感器技术具有亚微米级重复性，并且消除了机械式测头存在的各向异性问题。测头内部采用固态ASIC电子元器件，可确保数百万次触发的可靠操作。
TP200B采用的技术与TP200相同，但可承受更高的振动公差。这有助于克服因坐标测量机传导振动或在移动速度很高的情况下使用长测针所引发的误触发问题。
请注意：我们不推荐将TP200B配用LF模块或曲柄式/星形测针。
规格概述 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要应用 | 用于要求高精度的数控坐标测量机。 | 与TP200一样，但当出现误触发事件时使用。 |
感应方向 | 六轴：±X、±Y、±Z | 六轴：±X、±Y、±Z |
单向重复精度 (2σ µm) | 电平触发1：0.40 µm 电平触发2：0.50 µm | 电平触发1：0.40 µm 电平触发2：0.50 µm |
XY (2D) 形状测量偏差 | 电平触发1：±0.80 µm 电平触发2：±0.90 µm | 电平触发1：±1 µm 电平触发2：±1.2 µm |
XYZ (3D) 形状测量偏差 | 电平触发1：±1 µm 电平触发2：±1.40 µm | 电平触发1：±2.50 µm 电平触发2：±4 µm |
测针交换的重复精度 | 使用SCR200：±0.50 µm（最大） 手动：±1 µm（最大） | 使用SCR200：±0.50 µm（最大） 手动：±1 µm（最大） |
测力（测尖） | XY平面（所有模块）：0.02 N Z轴（所有模块）：0.07 N | XY平面（所有模块）：0.02 N Z轴（所有模块）：0.07 N |
过行程测力（当位移为0.50 mm时） | XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N Z轴（SF/EO模块）：4.90 N Z轴（LF模块）：1.60 N | XY平面（SF/EO模块）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模块）：0.1 N至0.15 N Z轴（SF/EO模块）：4.90 N Z轴（LF模块）：1.60 N |
重量（测头和模块） | 22 g | 22 g |
最大加长杆长度（如安装在PH10 PLUS系列测座上） | 300 mm | 300 mm |
推荐的最大测针长度（M2测针系列） | SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm玻璃纤维 LF模块：20 mm钢质至50 mm玻璃纤维 | SF/EO模块：50 mm钢质至100 mm玻璃纤维 LF模块：20 mm钢质至50 mm玻璃纤维 |
安装方式 | M8螺纹 | M8螺纹 |
适合的接口 | ||
测针模块交换架 | ||
测针系列 |
TP200测针模块
测针模块通过高重复性机械定位的磁性接头安装在TP200/TP200B测头本体上，具有快速测针交换功能和测头过行程保护功能。
共有三种测针模块可供选择，具有两种不同的过行程测力。
模块 | SF（标准测力） | LF（低测力） | EO（长过行程） |
|---|---|---|---|
应用 | 一般用途。 | 小直径测球或者必须使用最小测力的应用场合。 | 额外过行程可使坐标测量机在较高的测头测量速度下安全停止并回退。 |
说明 | 测针最长可达100 mm，测球直径 > 1 mm。 | 测球直径小于1 mm。 | 与SF的过行程测力相同。 测头Z轴的额外过行程为8 mm。 |
