坐标测量机上的全自动表面粗糙度测量
表面粗糙度检测完全整合到坐标测量机的测量程序中。
2011年7月25日
雷尼绍的创新REVO®五轴测量系统又添新品 — SFP1，它首次将表面粗糙度检测完全整合到坐标测量机的测量程序中。
SFP1表面粗糙度检测测头的测量能力从6.3至0.05 Ra，其采用独特的“单一平台”设计，无需安装手持式传感器，也不需要将工件搬到价格昂贵的表面粗糙度专用测量仪上进行测量，既降低了人工成本又缩短了检测辅助时间。坐标测量机用户现在能够在工件扫描与表面粗糙度测量之间自动切换，一份测量报告即可呈现全部分析数据。
高质量表面粗糙度数据
SFP1表面粗糙度检测测头作为REVO五轴测量系统的一个完全集成选件，提供一系列强大功能，可显著提升检测速度和灵活性，令用户受益。
测头包括一个C轴，结合REVO测座的无级定位能力和特定测针，该轴允许自动调整测头端部的任意角度来适应工件，确保获得最高质量的表面粗糙度数据。SFP1配有两种专用测针：SFS-1直测针和SFS-2曲柄式测针，它们在测量程序的完全控制下由REVO系统的模块交换架系统 (MRS) 选择。这不仅有助于灵活测触工件特征，还兼具全自动数控方法的一致性。
SFP1表面粗糙度检测测头为平滑式测尖，含钻石成份的测尖半径为2 μm，它按照I++ DME协议，通过雷尼绍的UCCServer软件将Ra、RMS和原始数据输出到测量应用客户端软件上。原始数据随后可提供给专业的表面分析软件包，用于创建更详细的报告。
表面粗糙度检测测头自动标定
传感器校准也通过坐标测量机软件程序自动执行。新的表面粗糙度校准块 (SFA) 安装在MRS交换架上，通过SFP1检测测头进行测量。软件然后根据校准块的校准值调整测头内的参数。
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