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混合拉曼系统

将雷尼绍拉曼光谱仪与众多制造商的其他分析系统联用,可增强其能力。

为发挥最高效率,您可以使用两种或多种技术分析样品,而无需在仪器之间转移样品。

使用雷尼绍的关联式显微光谱仪系统,您能够同时采用两种技术对同一点进行分析。

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inVia显微拉曼光谱仪混合系统

SPM/AFM:纳米分辨率

将inVia显微拉曼光谱仪与扫描探针显微镜 (SPM) 联用,如原子力显微镜 (AFM),可研究材料的化学和结构特性。利用TERS增加纳米尺度化学分辨率,可揭示机械性能等补充信息。

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SEM-SCA混合拉曼系统

SEM拉曼系统

通过雷尼绍的拉曼结构与化学成分分析仪 (SCA) 接口,为扫描电镜 (SEM) 增加拉曼分析能力。使用SEM记录样品的高分辨图像,并使用X射线进行元素分析。识别物质和非金属化合物,即使它们具有相同的化学计量结果也不在话下。

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纳米压痕:机械性能测量

将inVia显微拉曼光谱仪的能力与纳米压痕测试结果结合,直接将机械和摩擦性能与化学信息相关联,例如结晶度、多态性、晶相和应力。

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Hysitron与inVia联用拉曼系统

阅读《显微镜学与分析杂志》的文章

  • Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings Correlative SPM Raman and SEM analysis of biomedical devices and coatings [en]

    A variety of medical implants and microelectrode arrays for electrophysiology are fabricated in thin film and micro technology. To guarantee the quality, proper functionality and safe operation of these devices, analytical techniques to investigate the structure and chemical composition of surfaces and interfaces during the fabrication process and for final quality control are essential.

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