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XM-60和XM-600多光束激光干涉仪

只需一次设定即可在任意方向测量6个自由度。

独特的技术、光学滚摆测量以及光纤发射器。

XM-60是一款激光测量系统,只需一次设定即可沿线性轴同时测量6个自由度的误差。它具有强大的诊断工具,通过一次采集就可以测量轴的所有几何误差。

对于执行空间补偿的用户,XM-60为他们获得所需数据组提供了一种快速精准的方法。所有测量均为光学测量,可在任意方向执行。

概述

轻型发射器通过光导纤维远离发热的激光源,从而减少测量点处的热影响。发射器可直接通过其侧面甚至后面安装到机器上或者上下倒置安装,非常适用于难以接近的机器区域。

接收器可进行完全无线操作,由充电电池供电,从而在机器移动中避免电缆拖拽,因为在测量过程中电缆拖拽可能会引起误差或激光束“断光”。

CARTO软件包由三个应用程序构成,即 Capture(数据采集)、Explore(数据浏览)和Compensate(补偿),适用于XM-60。

使用XM-60进行回转轴测量

主要特性与优点:

  • 快速 — 利用传统激光技术,一次安装即可同时测量线性、俯仰、扭摆、滚摆、水平方向和垂直方向直线度等六项误差。
  • 简单 — 设定简单,其他干涉仪系统使用者很快就能熟练使用。自动检测轴的正负方向和图形准直减少了人为误差。
  • 可靠 — 直接测量所有误差,允许用户在测试过程中查看结果。
  • 强大 — 独特的光学滚摆测量系统能够在任一方向执行滚摆测量。

回转轴测量

CARTO现在可以处理使用XR20-W无线型回转轴校准装置通过回转轴测试采集的数据。首次实现使用XR20-W和XM-60对回转轴进行校准,从而将五轴机床的校准时间从若干天缩短至半天。

精确光路准直

我们的单轴水平平移台是一个新附件,可以在没有与被测轴线横向垂直平移的应用中实现精确光路准直。通过水平平移台可以轻松且精确地平移XM-60的发射器,而不会影响已调整好的扭摆角大小。

该功能尤其适用于运动平台和打印机等应用中。

铸件上的水平平移台

CARTO支持XM-60

Xm-60系统的设计非常灵活, 可以满足用户的不同校准需求。CARTO Capture“基于目标模式”专用于补偿机床误差并根据国际标准生成性能报告。

动态数据拟合功能使XM-60用户可以动态采集直线度测量值。将在CARTO Capture中重新计算测试数据,以减少突跳数据点。这种改进方法在嘈杂的环境中具有更大的精度保持性。

CARTO“自由运行模式”允许用户在无需定义目标位置甚至目标数量的情况下,立即采集数据。该软件显示相对于直线位置的直线度(水平和垂直)、俯仰、扭摆和滚摆误差。

触发方式包括:

  • 手动(使用键盘按键)
  • 自动(基于位置稳定性)
  • 持续(按用户定义的步长在连续运动中采集)

CARTO软件包的Compensate(补偿)软件可帮助用户轻松降低机床的所有几何量误差。空间补偿有助于优化机床性能、提高精度、降低废品率。

具备UCC功能的坐标测量机 (CMM)

XM-600多光束激光干涉仪新增与雷尼绍UCC控制器直接通信的功能。利用为XM-60多光束激光干涉仪开发的技术,XM-600可以在一次测量中同时测量6个自由度,轻松为坐标测量机的每个线性轴生成精确的误差图。

XM-600与XM-60一样兼容CARTO,因此它为所有既使用机床又使用坐标测量机的制造工厂提供了理想的校准解决方案。

XM-600多光束激光干涉仪

图库

可溯源精度

每一台XM-60多光束校准装置的性能均可溯源至国际标准,而且在发货前已经过认证。这可以让客户确信他们的系统将在精度要求高的场合一如既往地提供高精度测量。

更多信息,请参见XM-60和XM-600多光束激光干涉仪性能规格

由雷尼绍设计

雷尼绍制造的激光测量系统性能卓越、运行可靠。铝制基体结构轻巧而坚固,设计为最小封装尺寸,以适合安装在机器上。激光器采用专门为RLE激光尺开发的技术研制,RLE已面世十余年,可用于半导体行业要求最为严苛的应用。

灵活性

XM-60发射器带有集成的可开关磁性安装座,允许快速吸附在机器上。可与90度弯板配合,进行垂直轴准直。提供可选夹具组件,以满足多种安装要求。

产品信息